第三代新款蔡司德國(guó)蔡司 ZEISS METROTOM 工業(yè)CT面向未來(lái)的質(zhì)量控制--今天

十二年來(lái)，德國(guó)蔡司 ZEISS METROTOM 工業(yè)CT一直為質(zhì)量控制提供可靠的CT技術(shù)。第三代計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)系統(tǒng)蔡司METROTOM 1500證明了先進(jìn)可靠的X射線技術(shù)不再是未來(lái)的愿景。今天，您可以使用面向未來(lái)的質(zhì)量控制。

全面的3D CT數(shù)據(jù)分析

GOM Volume Inspect(體積檢測(cè))分析軟件易于使用，甚至適合初學(xué)者，它允許以3D形式進(jìn)行完整的CT數(shù)據(jù)分析。軟件可以精準(zhǔn)地分析幾何形狀、縮孔或內(nèi)部結(jié)構(gòu)和組件。即使是細(xì)微的缺陷也可以通過(guò)單個(gè)截面圖像看到，并且可以根據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)進(jìn)行評(píng)估。您還可以將幾個(gè)組件的體積數(shù)據(jù)加載到項(xiàng)目中，執(zhí)行趨勢(shì)分析，并將分析結(jié)果與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。這樣，就可以準(zhǔn)確地確定和記錄組件的質(zhì)量，而上述這些往往都只需一個(gè)軟件即可完成。